Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing - - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461377986 - 4 oktober 2012
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

Prijs
€ 100,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 31 jul. - 10 aug.

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
of

Nog niet beoordeeld

This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs.

167 pages, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 4 oktober 2012
ISBN13 9781461377986
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 167
Afmetingen 150 × 220 × 10 mm   ·   369 g
Taal en grammatica Engels  
Uitgever Zorian, Yervant

Meer van dezelfde uitgever