Vertel uw vrienden over dit artikel:
Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors - Electromagnetics and Radar
Jianjun Gao
Prijs
S$ 209,28
Besteld in een afgelegen magazijn
Verwachte levering 23 mei - 3 jun.
Onze klanten zeggen:
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors - Electromagnetics and Radar
Jianjun Gao
350 pages, illustrations
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 30 juni 2010 |
| ISBN13 | 9781891121890 |
| Uitgevers | SciTech Publishing Inc |
| Pagina's | 350 |
| Afmetingen | 589 g |
