Vertel uw vrienden over dit artikel:
CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Reliability 1st ed. 2016 edition
Jiann-Shiun Yuan
Prijs
€ 63,99
Besteld in een afgelegen magazijn
Verwachte levering 10 - 19 jun.
Onze klanten zeggen:
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Eller
CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Reliability 1st ed. 2016 edition
Jiann-Shiun Yuan
The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and circuits.
106 pages, 101 black & white illustrations, biography
| Media | Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug) |
| Vrijgegeven | 21 april 2016 |
| ISBN13 | 9789811008825 |
| Uitgevers | Springer Verlag, Singapore |
| Pagina's | 106 |
| Afmetingen | 155 × 235 × 6 mm · 1,83 kg |
Alles tonen
Meer door Jiann-Shiun Yuan
Bekijk alles van Jiann-Shiun Yuan ( bijv. Book en Paperback Book )