Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Boeken - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065699 - 12 februari 2010
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Prijs
€ 107,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 17 - 25 jun.

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
of

Ook verkrijgbaar als:

These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

420 pages, 17 black & white tables, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 12 februari 2010
ISBN13 9783642065699
Uitgevers Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Pagina's 420
Afmetingen 155 × 235 × 23 mm   ·   698 g
Taal en grammatica Duits  
Uitgever Bhushan, Bharat
Uitgever Fuchs, Harald

Mere med samme udgiver