Vertel uw vrienden over dit artikel:
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Peter Pichler 2004 edition
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics
Peter Pichler
This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.
554 pages, 40 black & white illustrations, biography
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 2 juni 2004 |
| ISBN13 | 9783211206874 |
| Uitgevers | Springer Verlag GmbH |
| Pagina's | 554 |
| Afmetingen | 178 × 254 × 31 mm · 1,18 kg |
| Taal en grammatica | Engels Duits |
Meer door Peter Pichler
Alles tonenBekijk alles van Peter Pichler ( bijv. Book , Hardcover Book en Paperback Book )
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld