Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability - Frontiers in Electronic Testing - Mohammad Tehranipoor - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441945136 - 23 november 2010
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Mohammad Tehranipoor
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

Prijs
€ 148,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 31 dec. - 8 jan. 2026
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
of

Ook verkrijgbaar als:

Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes.

422 pages, black & white illustrations

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 23 november 2010
ISBN13 9781441945136
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 408
Afmetingen 155 × 235 × 21 mm   ·   589 g
Taal en grammatica Engels  
Uitgever Tehranipoor, Mohammad

Meer door Mohammad Tehranipoor

Alles tonen

Bekijk alles van Mohammad Tehranipoor ( bijv. Hardcover Book en Paperback Book )