Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Lawrence C Wagner - Boeken - Chapman and Hall - 9780412145612 - 31 januari 1999
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1999 edition

Lawrence C Wagner

Prijs
A$ 338,43

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 1 - 12 mei

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Eller

Ook verkrijgbaar als:

Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1999 edition

This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.

255 pages, biography

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 31 januari 1999
ISBN13 9780412145612
Uitgevers Chapman and Hall
Pagina's 255
Afmetingen 155 × 235 × 17 mm   ·   589 g
Taal en grammatica Engels  
Uitgever Wagner, Lawrence C.

Bekijk alles van Lawrence C Wagner ( bijv. Hardcover Book en Paperback Book )