Vertel uw vrienden over dit artikel:
Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition, Lawrence E. Murr 2e uitgave
Prijs
€ 104,99
Besteld in een afgelegen magazijn
Verwachte levering 18 sep. - 2 okt.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Lawrence E. Murr
Onze klanten zeggen:
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
of
Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,
Lawrence E. Murr
The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr
856 pages
| Media | Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug) |
| Vrijgegeven | 29 oktober 2019 |
| ISBN13 | 9780367402945 |
| Uitgevers | Taylor & Francis Ltd |
| Pagina's | 856 |
| Afmetingen | 150 × 220 × 10 mm · 453 g |
| Taal en grammatica | Engels |
| Uitgever | Murr, Lawrence E |
