Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition - Joseph Goldstein - Boeken - Springer Science+Business Media - 9780306472923 - 31 januari 2003
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition Third Edition 2003 edition


Ontvang een e-mail zodra het artikel beschikbaar is
Heb je een profiel? Inloggen
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Joseph Goldstein
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
of

Nog niet beoordeeld

In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers.


709 pages, biography

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 31 januari 2003
ISBN13 9780306472923
Uitgevers Springer Science+Business Media
Pagina's 689
Afmetingen 178 × 255 × 38 mm   ·   1,68 kg

Meer door Joseph Goldstein

Meer van dezelfde uitgever