Vertel uw vrienden over dit artikel:
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition Joseph Goldstein Third Edition 2003 edition
Heb je een profiel? Inloggen
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Joseph Goldstein
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
of
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Joseph Goldstein
In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers.
709 pages, biography
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 31 januari 2003 |
| ISBN13 | 9780306472923 |
| Uitgevers | Springer Science+Business Media |
| Pagina's | 689 |
| Afmetingen | 178 × 255 × 38 mm · 1,68 kg |