Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques - Behnam Ghavami - Boeken - Springer Nature Switzerland AG - 9783030516093 - 14 oktober 2020
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques 2021 edition

Prijs
€ 50,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 1 - 9 jan. 2026
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
of

Ook verkrijgbaar als:

Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.


114 pages, 50 Tables, color; 9 Illustrations, color; 30 Illustrations, black and white; XIII, 114 p.

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 14 oktober 2020
ISBN13 9783030516093
Uitgevers Springer Nature Switzerland AG
Pagina's 114
Afmetingen 150 × 220 × 20 mm   ·   362 g
Taal en grammatica Duits