Vertel uw vrienden over dit artikel:
Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection Fred Stevie
Prijs
€ 59,99
Besteld in een afgelegen magazijn
Verwachte levering 31 dec. - 8 jan. 2026
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Onze klanten zeggen:
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
of
Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection
Fred Stevie
150 pages
| Media | Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug) |
| Vrijgegeven | 15 september 2015 |
| ISBN13 | 9781606505885 |
| Uitgevers | Momentum Press |
| Pagina's | 150 |
| Afmetingen | 152 × 229 × 16 mm · 390 g |
| Taal en grammatica | Engels |
Bekijk alles van Fred Stevie ( bijv. Paperback Book )